LS225涂层测厚仪+N1500探头

LS225+N1500是一款便携式分体式的涡流测厚仪，由主机LS225和非铁基探头N1500组成。仪器采用涡流感应原理，具有高的测量精度和重复性，配上探针式的测头设计，特别适用于测量各种小尺寸工件、异形材料的涂层厚度。

LS225涂层测厚仪产品特点：

1.探针式测头设计

探针式测头设计，特别适合于测量小尺寸和异型材料上的涂层及覆层厚度，测头顶端采用高硬度红宝石，可确保仪器具有超长使用寿命

2.可测超薄涂镀层

采用数字震荡技术和高速ADC采集

可测量10μm以下超薄涂层且确保数据准确稳定

3.手压机架测试更准确

选购专用的手压测试机架能消除人为因素造成的误差，数据重复性可达0.1μm

4.多点校准，数据更准确

支持调零和多点校准确保数据更加准确，配备专门的调零板和标准片

5.具备数据统计功能

具备数据统计功能，自动统计*近测试的9组数据的*大值，*小值，平均值和方差值