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德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪

德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪

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  • 品   牌:德国FISCHER
  • 简   介: 德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪,它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析。

德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪,它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析。


德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪产品简介:

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。

XDL230 有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器,比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。由于采用了FISCHER完全基本参数法,因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品,仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。


德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪产品应用:

测量大规模生产的电镀部件

测量超薄镀层,例如:装饰铬

测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

测量印刷线路板

分析电镀溶液



仪器参数

德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪技术参数:

通用规格

设计用途

能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪(EDXPF),

用于测定超薄镀层和溶液分析。

元素范围

从元素氯(17)到铀(92)

配有可选的WinFTM®BASIC软件时,多时可同时测定24种元素

设计理念

台式仪器,测量门向上开启

测量方向

由上往下

X射线源

X射线管

带铍窗口的钨管

高压

三档:30KV,40KV,50KV

孔径(准直器)

φ0.3mm 可选:φ0.1mm;φ0.2mm;长方形0.3mm x 0.05mm

测量点尺寸

取决于测量距离及使用的准直器大小

实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致

较小的测量点大小约φ0.2mm

X射线探测

X射线接收器

比例接收器

测量距离

0~80mm,使用专有保护的DCM测量距离补偿法

样品定位

视频系统

高分辨率CCD彩色摄像头,沿着初级X射线光束方向观察测量位置

手动聚焦,对被测位置进行监控

十字线(带有经过校准的刻度和测量点尺寸)

可调节亮度的LED照明,激光光点用于准确定位样品

放大倍数

40x~160x

电器参数

电源要求

200V,50Hz

功率

很大120W(不包括计算机)

保护等级

IP40

尺寸规格

外部尺寸

宽x深x高(mm):570x760x650

内部测量室尺寸

宽x深x高(mm):460x495x(参考“样品较大高度”部分的说明)

重量

107KG

环境要求

使用时温度

10℃~40℃

存储或运输时温度

0℃~50℃

空气相对湿度

≤95% 无结露

工作台

设计

手动X/Y平台

X/Y平台较大移动范围

92x150mm

可用样品放置区域

420x450mm

Z轴

马达驱动

Z轴移动范围

140mm

样品很大重量

20KG

样品大高度

140mm

激光(1级)定位点

计算单元

计算机

带扩展卡的Windows®计算机系统

软件

标准:WinFTM®V.6 LIGHT

可选:WinFTM®V.6 BASIC,PDM,SUPER

执行标准

CE合格标准

EN 61010

型式许可

作为受完全保护的仪器

型式许可完全符合德国“Deutsche Rontgenverordnung-RoV”法规的规定



德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪