日本KETT LZ-990涡磁两用式膜厚计

日本KETT LZ-990涡磁两用式膜厚计技术参数：

测定方法：电磁、涡电流式兼用(自动识别)

测定对象：磁性金属上非磁性涂镀层、非磁性金属上绝缘层

测量范围： 0-2000μm/0-80mils

测量精度： <50μm±1μm >50μm<1000μm±2% >1000μm±3%

测试面积： ≥5x5mm

使用温度范围： 0-40℃

分辨率： ≤100μm 0.1μm >100μm 1μm

数据统计： 测试次数、较大/较小值、平均值、标准偏差

应用程序存储器： 电磁式、涡流式各8种，共计16条校正曲线的记忆

外部输出： 电脑(USB)或打印机(RS-232C)

尺寸、质量： 82(W)×99.5(D)×32(H)毫米，约160克

附件： 零板、标准板、电池、合格证、说明书、挂件

数据存储： 约1000个，较小值为0.1μm

功能：测量数据存储，删除

数据输出，组区分，自动电源ON / OFF功能

上下限的设定，统计计算，背光功能，单位设定

包装清单：主机 3个标准片，一个F/NF基体