日本KETT LZ-200J两用膜厚计

日本KETT LZ-200J两用膜厚计技术参数：

测定方法：电磁诱导式+涡电流式

测定对象：磁性金属上的非磁性薄膜及非磁性金属上的绝缘膜

测量范围：

电磁式：0～1500μm或60.00 mils

涡流式：0～800μm或32.00 mils

测量精度：

电磁式：<15μm±0.3μm ≥15μm±2%

涡流式：<50μm±1μm ≥50μm±2%

测试面积： 3*3mm

测试单位：公/英制

分辨率： ≤100μm0.1μm ≥100μm1.0μm

统计功能： 测试次数、较大/较小值、平均值、标准偏差

显示方式：LED数显

探针：一点接触恒压式(LEP - J，LHP - J)

外部输出： RS-232C接口(传送速度2400 bps)

尺寸、质量： 120(W)×250(D)×55(H)毫米，1000g

附件： 探头/基体/校正标准片/电池/V型块/变压器/皮套/合格证/说明书

附加功能：内置打印功能、储存统计功能、连接电脑功能(RS232标准接口)

界限设定：可设定上/下限

电源：电源AC 100V(50 / 60Hz)或电池1.5 V(单3碱)